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SMT生產(chǎn)線檢測(cè)設(shè)備功能哪個(gè)好
日期:2022-12-30 08:53
作者:寶爾威
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SMT生產(chǎn)線上有很多種不同的檢測(cè)設(shè)備,它們檢測(cè)的目標(biāo)也都非常的明確,所以不存在SMT生產(chǎn)線檢測(cè)設(shè)備功能那個(gè)好的問(wèn)題。各種檢測(cè)設(shè)備只有適用不適用,功能符不符合要求,以及多種檢測(cè)設(shè)備能否在一條線上同時(shí)使用的問(wèn)題。下面,我們就簡(jiǎn)單的對(duì)比下各種SMT檢測(cè)設(shè)備功能。


 1、手動(dòng)檢測(cè)儀器:通過(guò)人工使用儀器儀表,來(lái)檢測(cè)PCB板上的電阻、電容,核對(duì)BOM物料清單,這種操作方式費(fèi)時(shí)費(fèi)力比較麻煩,檢測(cè)過(guò)程中容易出錯(cuò)或者遺漏。


 2、LCR電橋量測(cè)量:使用電橋?qū)CB板上的元器件測(cè)量,同時(shí)與BOM表上電子元器件額定值進(jìn)行對(duì)比,沒(méi)有異常后就可以正式生產(chǎn)。這種方法成本低廉,有LCR就可以測(cè)量,很多SMT廠都會(huì)采用這種測(cè)量方式。


離線式<a href='/new/176.html' style='color: blue;' target='_blank'>F<a href='/new/292.html' style='color: blue;' target='_blank'><a href='/new/292.html' style='color: blue;' target='_blank'>AI</a></a></a>

離線式FAI


3、FAI首件測(cè)試儀:FAI現(xiàn)在的主流設(shè)備都是半自動(dòng)的,由人工和設(shè)備互相配合進(jìn)行檢測(cè),檢測(cè)效率相對(duì)來(lái)說(shuō)有所提高,但仍有不足。未來(lái)首件檢測(cè)都會(huì)采用全自動(dòng)的檢測(cè)方式,而且可以實(shí)現(xiàn)在線和離線的應(yīng)用選擇。全自動(dòng)首件測(cè)試儀有獨(dú)立的電氣結(jié)構(gòu),在線首件測(cè)試儀能夠融入到產(chǎn)線上,檢測(cè)過(guò)程中不需要人工參與。全自動(dòng)首件檢測(cè)儀由FAI軟件進(jìn)行控制,配合導(dǎo)入的BOM物料表,主導(dǎo)LCR電橋進(jìn)行準(zhǔn)確測(cè)量,系統(tǒng)會(huì)和輸入的BOM數(shù)據(jù)核對(duì),還能與現(xiàn)有的SMT多系統(tǒng)對(duì)接,自動(dòng)生成報(bào)表,實(shí)現(xiàn)檢測(cè)追溯等功能。


4、AOI測(cè)試儀:AOI是SMT生產(chǎn)線上常見(jiàn)的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備,通過(guò)拍攝對(duì)比電子元器件和焊接外形特性,來(lái)確定各種問(wèn)題。AOI也可以對(duì)比電子元器件的顏色、IC上的絲印判定PCB板上是否存在錯(cuò)件。但AOI也有一定的使用局限性,那就是用于檢測(cè)層次不太復(fù)雜,遮擋較少的電路板檢測(cè)。


<a href='/new/173.html' style='color: blue;' target='_blank'><a href='/new/173.html' style='color: blue;' target='_blank'>X-RAY</a></a>

X-RAY


5、X-RAY:X-RAY檢測(cè)設(shè)備具有非常獨(dú)特的特性,那就是能夠檢查出普通設(shè)備隱藏難以發(fā)現(xiàn)的斷裂、假焊,例如BGA、CSP、QFN等方式封裝的電路板,對(duì)其首件進(jìn)行X-ray檢查,可以檢測(cè)出焊點(diǎn)的厚度,形狀、密度等焊接品質(zhì)。這些指標(biāo)可以反映出開路,短路,孔洞,內(nèi)部氣泡以及錫量不足,更重要的是數(shù)據(jù)可以做定量分析,以完善產(chǎn)品品質(zhì)。


6、飛針測(cè)試:適用于小批量PCB板的檢測(cè),特點(diǎn)是檢測(cè)方便,程序可變性強(qiáng),通用性好。但缺點(diǎn)也比較明顯,即檢測(cè)效率低,且測(cè)試要在PCB板過(guò)爐后進(jìn)行,其工作原理是測(cè)量?jī)蓚€(gè)點(diǎn)位之間的阻值,來(lái)確定電路板中元器件是否存在短路、空焊、錯(cuò)件等問(wèn)題。目前全自動(dòng)首件檢測(cè)儀,采用的也是全自動(dòng)飛針檢測(cè)。


7、ICT測(cè)試:ICT的測(cè)試效率很高,設(shè)備本身的成本比較大,且在檢測(cè)時(shí)需要特制的夾具,夾具更換測(cè)試成本比較高,ICT的測(cè)試工作原理和飛針檢測(cè)差不多。


9、FCT測(cè)試:這個(gè)測(cè)試方式比較特殊,適用于檢測(cè)復(fù)雜的電路板,PCB板通過(guò)特定的治具,模擬出電路板的正式使用場(chǎng)景,將電路板放在這個(gè)模擬的場(chǎng)景中,接通電源后觀察電路板是否可以正常的使用。它的缺點(diǎn)是測(cè)試效率低,測(cè)試成本高。

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